JKA（競輪）補助事業導入機器（平成30年度）
［走査電子顕微鏡］
本機器は、工業材料や食品素材等をミクロな領域で高度な分析を行い、電子部品の改良や食品機械部品の不具合の原因究明等に活用されます。
・工業材料の高倍率観察や微小部の元素分析
・機械部品・工業材料の表面状態、形状分析に関する試験研究
・真空応用機器により作成した薄膜の分析、装置性能の検証
・電子部品の高性能化のための製造プロセス開発
〈規格形式〉 MP-60140BU
〈製 造 者〉 日本電子株式会社
