機器整備(R3_JKA補助)

JKA(競輪)補助事業導入機器(令和3年度(2021年度))

[電界放射型走査電子顕微鏡]
 本機器は、機械部品、機械・金属材料、電子部品、電子・セラミックス材料、高分子材料を高倍率(数万倍)で観察するとともに、微小部の元素分析を行う機器で、製品の品質向上や新製品の開発に活用できます。

 ・機械部品・材料の分析に関する試験研究
 ・機械電子部品の機能性薄膜の分析
 ・電子部品・電子材料分野における接合など、加工技術に関する分析・評価試験
 ・機械・自動車関連製品の表面処理技術、成膜技術の向上に関する試験研究

〈規格形式〉 TESCAN CLARA LMH

〈製 造 者〉 TESCAN社

R3kiki

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